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  • 双头探针038-JB-5.7L

    双头探针038-JB-5.7L

    产品型号:038-JB-5.7L
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头及尖头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针 038-BB-5.7L

    双头探针 038-BB-5.7L

    产品型号:038-BB-5.7L
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为尖头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针 031-UU-5.7L

    双头探针 031-UU-5.7L

    产品型号:031-UU-5.7L
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针031-JJ-5.7L

    双头探针031-JJ-5.7L

    产品型号:031-JJ-5.7L
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为圆头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针031-BU-5.7L

    双头探针031-BU-5.7L

    产品型号:031-BU-5.7L
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为 尖头、爪头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针031-BF-5.7L

    双头探针031-BF-5.7L

    产品型号:031-BF-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为 尖头、爪头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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