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  • 双头探针058-BU-6.3L

    双头探针058-BU-6.3L

    产品型号:058-BU-6.3L
    产品头型:探针外径为0.58mm,总长度为6.3mm、针的两端的头型为Z爪头及尖头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针038-JB-5.7L

    双头探针038-JB-5.7L

    产品型号:038-JB-5.7L
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头及尖头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针 038-BB-5.7L

    双头探针 038-BB-5.7L

    产品型号:038-BB-5.7L
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为尖头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针 031-UU-5.7L

    双头探针 031-UU-5.7L

    产品型号:031-UU-5.7L
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针031-JJ-5.7L

    双头探针031-JJ-5.7L

    产品型号:031-JJ-5.7L
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为圆头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针031-BU-5.7L

    双头探针031-BU-5.7L

    产品型号:031-BU-5.7L
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为 尖头、爪头
    所属分类:双头探针
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 双头探针031-BF-5.7L

    双头探针031-BF-5.7L

    产品型号:031-BF-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.31mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为 尖头、爪头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    产品先容:针轴两端采用高碳钢的材质,防止使用的过程中针头容易断头或弯曲;针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

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  • 光板定位探针GP-3S

    光板定位探针GP-3S

    产品名称:GP-3S
    所属分类:测试探针
    产品概况:定位针、探针直径为6.0mm、总长度为37.5mm、ICT测试针、功能夹具定位针、测试针、五金配件
    订购热线::400-183-6682
    产品先容(产品概述):弹力为250g.

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  • 光板定位探针GP-2S

    光板定位探针GP-2S

    产品名称:GP-2S
    所属分类:测试探针
    产品概况:定位针、探针直径为4.0mm、探针长度35.5mm、ICT测试针、功能夹具定位针、测试针、五金配件
    订购热线::400-183-6682
    产品先容(产品概述):弹力为150g.

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  • 光板定位探针GP-11S

    光板定位探针GP-11S

    产品名称:GP-11S
    所属分类:测试探针
    产品概况:定位针、探针外径为4.5mm ,长度为35.5mm、ICT测试针、功能夹具定位针、测试针、五金配件
    订购热线::400-183-6682
    产品先容(产品概述):弹力为150g.

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